ТАСС, 24 декабря. Российские ученые получили патент на объектив для микроскопа, который с помощью рентгеновского излучения позволит изучать внутреннюю структуру клеток и других образцов наноразмера без нанесения металлического слоя, которое требуется в электронной микроскопии. Об этом пишет пресс-служба МГУ им. Ломоносова.
Обычно клетки для изучения помещают в вакуумную камеру электронного микроскопа и покрывают тонким слоем металла для повышения качества изображения. Однако у этого метода есть минусы - "живая" клетка может лопнуть из-за повышения внутреннего давления, а покрытие металлом способствует искажению ее формы и даже повреждению. При этом сам метод электронной микроскопии не позволяет подробно изучить внутреннюю структуру образцов.
Авторы работы создали технологию изготовления линз, позволяющих получать качественные изображения в сочетании с рентгеновским излучением.
"У линз для фокусировки рентгеновского излучения есть несколько отличий от линз для видимого диапазона. Во-первых, из-за того, что показатель преломления материала для рентгеновского излучения меньше единицы, линзы для фокусировки должны быть не выпуклыми, а вогнутыми. Во-вторых, поскольку разница показателей преломления у материалов и воздуха очень небольшая (от тысячной до миллионной доли), нужно делать целые массивы из десятков, а то и сотен вогнутых линз, которые расположены в ряд на одной оптической оси", - отметил один из авторов работы, сотрудник МГУ Александр Петров.